Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 60749-34:2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Üldinfo

Kehtetu alates 05.01.2011
Alusdokumendid
IEC 60749-34:2004; EN 60749-34:2004
Tegevusala (ICS grupid)
31.080 Pooljuhtseadised
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
05.01.2011
Põhitekst
Used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors. This happens when low-voltage operating biases for forward conduction (load currents) are periodically applied and removed causing rapid changes of temperature. The power cycling test is complementary to high temperature operating life.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
12,20 € koos KM-ga
Paber
12,20 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring