Tagasi

EVS-EN 12543-3:2000

Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 3: Slit camera radiographic methods

Üldinfo

Kehtiv alates 01.03.2000
Alusdokumendid
EN 12543-3:1999
Tegevusala (ICS grupid)
19.100 Mittepurustav katsetamine
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
01.03.2000
Põhitekst
EVS-EN 12543-3:2000
This standard deals with the production of focal spot slit radiographs to be used for the determination of focal spot dimensions above 0,1 mm of X-ray tube asseblies up to and including 500 kV tube voltage.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
12,20 € koos KM-ga
Paber
12,20 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring
Inglise (PDF 169 KB)

Seotud tooted

Põhitekst

EVS-EN ISO 9712:2012

Mittepurustav katsetamine. MPK personali kvalifitseerimine ja sertifitseerimine
Kehtetu alates 01.04.2022
Põhitekst

EVS-EN ISO 9712:2022

Mittepurustav katsetamine. NDT personali kvalifitseerimine ja sertifitseerimine
Uusim versioon Kehtiv alates 01.04.2022
Põhitekst

EVS-EN ISO 3452-1:2021

Mittepurustavad katsed. Penetrantkatse. Osa 1: Üldpõhimõtted
Uusim versioon Kehtiv alates 20.07.2021
Põhitekst

EVS-EN 13018:2016

Mittepurustav katsetamine. Visuaalne kontrollimine. Üldpõhimõtted
Uusim versioon Kehtiv alates 02.03.2016

Teised on ostnud veel

Põhitekst

EVS-EN 12150-2:2004

Ehitusklaas. Termiliselt tugevdatud lubi-liiv-turvaklaas. Osa 2: Vastavuse hindamine/Tootestandard
Uusim versioon Kehtiv alates 05.01.2005
Põhitekst

EVS-EN 12543-2:2008

Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 2: Pinhole camera radiographic method
Kehtetu alates 03.05.2021
Põhitekst

EVS-EN 12543-4:2000

Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 4: Edge method
Uusim versioon Kehtiv alates 01.03.2000
Põhitekst

EVS-EN 12543-5:2000

Non-destructive testing - Characteristics of focal spot in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 5: Measurement of the effective focal spot size of mini and micro focus X-ray tubes
Uusim versioon Kehtiv alates 01.03.2000

Standardite lühendid

EVS Eesti standard
EN Euroopa standard (avaldatud Euroopa standardimisorganisatsioonide CEN või CENELEC poolt)
EN ISO Euroopa standardina avaldatud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
ISO Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard
HD Euroopa Elektrotehnika Standardimiskomitee harmoneerimisdokument
   
EVS-EN Euroopa standard avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard ja avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO/IEC Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard/Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-ISO Rahvusvaheline standard avaldatud Eesti standardina
   
A, AMD muudatus
+A standardi tekst ja muudatus
/A ainult muudatus
COR, AC parandus
+COR Standardi tekst ja parandus
NA rahvuslik lisa
+NA standardi tekst ja rahvuslik lisa
/NA ainult rahvuslik lisa
TS tehniline spetsifikatsioon
TR tehniline aruanne
CWA CENi või CENELECi töörühma kokkulepe
prEVS-EN (jne) standardi kavand
   
et standard on eesti keeles
en standard on inglise keeles
et-en standard on paralleeltekstina eesti-inglise keeles