Skip to main content
Tagasi

IEC 60749-4:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Üldinfo

Kehtetu alates 03.03.2017
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
03.03.2017
Põhitekst
Põhitekst
Provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.

The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
26,03 € koos KM-ga
Paber
26,03 € koos KM-ga
Standardi monitooring