Skip to main content
Tagasi

IEC 60747-8:2010/AMD1:2021

Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors

Üldinfo

Kehtiv alates 25.06.2021
Tegevusala (ICS grupid)
31.080.30 Transistorid
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
25.06.2021
Muudatus
15.12.2010
Põhitekst
Amendment to IEC 60747-8:2010

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
52,07 € koos KM-ga
Paber
52,07 € koos KM-ga
Standardi monitooring

Teised on ostnud veel

Põhitekst

EVS-EN 62109-2:2011

Fotoelektrilistes elektrivarustussüsteemides kasutatavate energiamuundurite ohutus. Osa 2:Erinõuded vahelditele
Uusim versioon Kehtiv alates 02.11.2011
Põhitekst

EVS-EN IEC 60749-28:2022

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
Uusim versioon Kehtiv alates 18.04.2022
Põhitekst + muudatus

EVS-EN IEC 55016-1-4:2019+A1+A2:2023

Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods - Part 1-4: Radio disturbance and immunity measuring apparatus - Antennas and test sites for radiated disturbance measurements (CISPR 16-1-4:2019 + CISPR 16-1-4:2019/A1:2020 + CISPR 16-1-4:2019/AMD2:2023)
Uusim versioon Kehtiv alates 01.06.2023
Põhitekst

EVS-EN IEC 60749-5:2024

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Uusim versioon Kehtiv alates 01.02.2024