Skip to main content
Tagasi

IEC 60444-2:1980

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units

Üldinfo

Kehtiv alates 01.01.1980
Tegevusala (ICS grupid)
31.140 Piesoelektrilised seadised
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
01.01.1980
Põhitekst
Describes a method of measuring the motional capacitance of quartz crystal units in the frequency range 1 MHz to 125 MHz with a total measurement error of the order of 5%.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
52,07 € koos KM-ga
Paber
52,07 € koos KM-ga
Standardi monitooring