Tagasi

EVS-EN IEC 61967-4:2021

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method

Üldinfo

Kehtiv alates 17.05.2021
Alusdokumendid
EN IEC 61967-4:2021; IEC 61967-4:2021
Tegevusala (ICS grupid)
31.200 Integraallülitused. Mikroelektroonika
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
17.05.2021
Põhitekst
EVS-EN IEC 61967-4:2021
02.08.2017
Parandus
EVS-EN 61967-4:2003/AC:2017
03.04.2009
Parandus
EVS-EN 61967-4:2003/A1:2006/AC:2006
05.07.2006
Muudatus
EVS-EN 61967-4:2003/A1:2006
01.03.2003
Põhitekst
EVS-EN 61967-4:2003
IEC 61967-4:2021 specifies a method to measure the conducted electromagnetic emission (EME) of integrated circuits by direct radio frequency (RF) current measurement with a 1 Ω resistive probe and RF voltage measurement using a 150 Ω coupling network. These methods ensure a high degree of reproducibility and correlation of EME measurement results. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
- frequency range of 150 kHz to 1 GHz has been deleted from the title;
- recommended frequency range for 1 Ω method has been reduced to 30 MHz;
- Annex G with recommendations and guidelines for frequency range extension beyond 1 GHz has been added.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
26,84 € koos KM-ga
Paber
26,84 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring
Inglise (PDF 1 MB)

Seotud tooted

Põhitekst

EVS-EN 62132-4:2006

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz Part 4: Direct RF power injection method
Uusim versioon Kehtiv alates 07.09.2006
Põhitekst

EVS-EN 62132-2:2011

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method
Uusim versioon Kehtiv alates 05.04.2011
Põhitekst

EVS-EN 61967-8:2011

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
Kehtetu alates 15.06.2023
Põhitekst

EVS-EN IEC 61967-1:2019

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions
Uusim versioon Kehtiv alates 01.03.2019

Standardite lühendid

EVS Eesti standard
EN Euroopa standard (avaldatud Euroopa standardimisorganisatsioonide CEN või CENELEC poolt)
EN ISO Euroopa standardina avaldatud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
ISO Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard
IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard
HD Euroopa Elektrotehnika Standardimiskomitee harmoneerimisdokument
   
EVS-EN Euroopa standard avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard ja avaldatud Eesti standardina
EVS-EN ISO/IEC Euroopa standardina ülevõetud Rahvusvahelise Standardimisorganisatsiooni standard/Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-IEC Rahvusvahelise Elektrotehnika Komisjoni standard avaldatud Eesti standardina
EVS-ISO Rahvusvaheline standard avaldatud Eesti standardina
   
A, AMD muudatus
+A standardi tekst ja muudatus
/A ainult muudatus
COR, AC parandus
+COR Standardi tekst ja parandus
NA rahvuslik lisa
+NA standardi tekst ja rahvuslik lisa
/NA ainult rahvuslik lisa
TS tehniline spetsifikatsioon
TR tehniline aruanne
CWA CENi või CENELECi töörühma kokkulepe
prEVS-EN (jne) standardi kavand
   
et standard on eesti keeles
en standard on inglise keeles
et-en standard on paralleeltekstina eesti-inglise keeles