Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 62132-8:2012

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method

Üldinfo

Kehtiv alates 03.10.2012
Alusdokumendid
IEC 62132-8:2012; EN 62132-8:2012
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
03.10.2012
Põhitekst
This part of IEC 62132 specifies a method for measuring the immunity of an integrated circuit (IC) to radio frequency (RF) radiated electromagnetic disturbances over the frequency range of 150 kHz to 3 GHz.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
19,52 € koos KM-ga
Paber
19,52 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring

Teised on ostnud veel

Põhitekst

EVS-EN 61967-8:2011

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
Kehtetu alates 15.06.2023
Põhitekst

EVS-EN 61967-2:2005

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method
Uusim versioon Kehtiv alates 07.12.2005
Põhitekst

EVS-EN 62132-4:2006

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz Part 4: Direct RF power injection method
Uusim versioon Kehtiv alates 07.09.2006
Põhitekst

EVS-EN 62132-5:2006

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz Part 5: Workbench Faraday cage method
Uusim versioon Kehtiv alates 08.03.2006