Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 60749-8:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Üldinfo

Kehtiv alates 07.11.2003
Alusdokumendid
IEC 60749-8:2002; EN 60749-8:2003
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
07.11.2003
Põhitekst
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
19,52 € koos KM-ga
Paber
19,52 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring