Skip to main content
Tagasi

EVS-EN 60749-7:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Üldinfo

Kehtetu alates 04.10.2011
Alusdokumendid
IEC 60749-7:2002; EN 60749-7:2002
Direktiivid või määrused
puuduvad

Standardi ajalugu

Staatus
Kuupäev
Tüüp
Nimetus
04.10.2011
Põhitekst
Põhitekst
Aims at testing and measuring the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. Applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but generally only used for high reliability applications such as military or aerospace.

Nõutud väljad on tähistatud *

*
*
*
PDF
12,20 € koos KM-ga
Paber
12,20 € koos KM-ga
Sirvi standardit alates 2,44 € koos KM-ga
Standardi monitooring